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      Control of the emission wavelength of gallium nitride-based nanowire light-emitting diodes

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          Abstract

          Halbleiter-Nanosäulen (auch -Nanodrähte) werden als Baustein für Leuchtdioden (LEDs) untersucht. Herkömmliche LEDs aus Galliumnitrid (GaN) bestehen aus mehreren Kristallschichten auf einkristallinen Substraten. Ihr Leistungsvermögen wird durch Gitterfehlpassung und dadurch hervorgerufene Verspannung, piezoelektrische Felder und Kristallfehler beschränkt. GaN-Nanosäulen können ohne Kristallfehler auf Fremdsubstraten gezüchtet werden. Verspannung wird in Nanosäulen elastisch an der Oberfläche abgebaut, dadurch werden Kristallfehler und piezoelektrische Felder reduziert. In dieser Arbeit wurden GaN-Nanosäulen durch Molukularstrahlepitaxie katalysatorfrei gezüchtet. Eine Machbarkeitsstudie über das Kristallwachstum von Halbleiter-Nanosäulen auf Metall zeigt, dass GaN-Nanosäulen in hoher Kristallqualität ohne einkristallines Substrat epitaktisch auf Titanschichten gezüchtet werden können. Für das Wachstum axialer (In,Ga)N/GaN Heterostrukturen in Nanosäulen wurden quantitative Modelle entwickelt. Die erfolgreiche Herstellung von Nanosäulen-LEDs auf Silizium-Wafern zeigt, dass dadurch eine Kontrolle der Emissionswellenlänge erreicht wird. Die Gitterverspannung der Heterostrukturen in Nanosäulen ist ungleichmäßig aufgrund des Spannungsabbaus an den Seitenwänden. Das katalysatorfreie Zuchtverfahren führt zu weiteren statistischen Schwankungen der Nanosäulendurchmesser und der Abschnittlängen. Die entstandene Zusammensetzung und Verspannung des (In,Ga)N-Mischkristalls wird durch Röntgenbeugung und resonant angeregte Ramanspektroskopie ermittelt. Infolge der Ungleichmäßigkeiten erfordert die Auswertung genaue Simulationsrechnungen. Eine einfache Näherung der mittleren Verspannung einzelner Abschnitte kann aus den genauen Rechnungen abgeleitet werden. Gezielte Verspannungseinstellung erfolgt durch die Wahl der Abschnittlängen. Die Wirksamkeit dieses allgemeingültigen Verfahrens wird durch die Bestimmung der Verspannung von (In,Ga)N-Abschnitten in GaN-Nanosäulen gezeigt.

          Abstract

          Semiconductor nanowires are investigated as a building block for light-emitting diodes (LEDs). Conventional gallium nitride (GaN) LEDs contain several crystal films grown on single crystal substrates, and their performance is limited by strain-induced piezoelectric fields and defects arising from lattice mismatch. GaN nanowires can be obtained free of defects on foreign substrates. In nanowire heterostructures, the strain arising from lattice mismatch can relax elastically at the free surface. Crystal defects and piezoelectric fields can thus be reduced. In this thesis, GaN nanowires are synthesized in the self-induced way by molecular beam epitaxy. A proof-of-concept study for the growth of semiconductor nanowires on metal shows that GaN nanowires grow epitaxially on titanium films. GaN of high crystal quality is obtained without a single crystal substrate. Quantitative models for the growth of axial (In,Ga)N/GaN nanowire heterostructures are developed. The successful fabrication of nanowire LED devices on silicon wafers proves that these models provide control over the emission wavelength. In the (In,Ga)N/GaN nanowire heterostructures, strain is non-uniform due to elastic relaxation at the sidewalls. Additionally, the self-induced growth leads to statistical fluctuations in the diameter and length of the GaN nanowires, and in the thickness of the axial (In,Ga)N segments. The (In,Ga)N crystal composition and lattice strain are analyzed by x-ray diffraction and resonant Raman spectroscopy. Due to the non-uniformity in strain, detailed numerical simulations are required to interpret these measurements. A simple approximation for the average strain in the nanowire segments is derived from the detailed numerical calculation. Strain engineering is possible by defining the nanowire segment lengths. Simulations of resonant Raman spectra deliver the experimental strain of (In,Ga)N segments in GaN nanowires, and give a proof of this universal concept.

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          Control of GaN surface morphologies using plasma-assisted molecular beam epitaxy

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            Evidence for nonlinear macroscopic polarization in III–V nitride alloy heterostructures

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              Complete composition tunability of InGaN nanowires using a combinatorial approach.

              The III nitrides have been intensely studied in recent years because of their huge potential for everything from high-efficiency solid-state lighting and photovoltaics to high-power and temperature electronics. In particular, the InGaN ternary alloy is of interest for solid-state lighting and photovoltaics because of the ability to tune the direct bandgap of this material from the near-ultraviolet to the near-infrared region. In an effort to synthesize InGaN nitride, researchers have tried many growth techniques. Nonetheless, there remains considerable difficulty in making high-quality InGaN films and/or freestanding nanowires with tunability across the entire range of compositions. Here we report for the first time the growth of single-crystalline In(x)Ga(1-x)N nanowires across the entire compositional range from x=0 to 1; the nanowires were synthesized by low-temperature halide chemical vapour deposition and were shown to have tunable emission from the near-ultraviolet to the near-infrared region. We propose that the exceptional composition tunability is due to the low process temperature and the ability of the nanowire morphology to accommodate strain-relaxed growth, which suppresses the tendency toward phase separation that plagues the thin-film community.
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                Author and article information

                Journal
                Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I, Humboldt-Universität (kvv )
                13 June 2013
                Article
                oai:HUBerlin.de:40154
                f21d969d-9079-4c54-b78d-efeb982b7e87
                History

                Physik, Astronomie,Physik,UN 6250,UN 7200,UH 5616,Molekularstrahlepitaxie,gallium nitride,molecular beam epitaxy,GaN,Galliumnitrid,Röntgenbeugung,x-ray diffraction,Nanodrähte,nanowires,ZN 5040,Nanosäulen,Leuchtdioden,Raman-Spektroskopie,UO 5500,light-emitting diodes,Raman spectroscopy

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